Для комбинационных и последовательностных схем в принципе применяются одни и те же алгоритмы. При этом последовательностные схемы предварительно преобразуются в комбинационные схемы в результате условного обрыва обратных связей и использования образовавшихся при этом псевдовходов.
По комбинационному эквиваленту строятся проверяющие и установочные последовательности и производится их анализ.
Установочная последовательность входных наборов требуется для перевода схемы из произвольного состояния, в котором она может находиться после включения, в одно определенное состояние. Наличие определенности состояния является необходимым условием успешной проверки, так как поведение устройства с памятью зависит не только от значений сигналов на входах, но и от его начального состояния.
Методы синтеза и анализа установочных последовательностей аналогичны применяемым для проверяющих последовательностей.
Сложность задачи синтеза тестов для последовательностных схем обусловлена следующими факторами:
Эти причины затрудняют разработку и практическое применение методов, гарантирующих построение теста, если он существует, для любых последовательностных схем. Например, известны попытки применения для асинхронных последовательностных схем эвристического алгоритма Рота. Однако алгоритм Рота в некоторых случаях не позволяет найти тест, который существует, а иногда построенная последовательность не проверяет неисправность, для которой она предназначена. Кроме того, рассматриваемый метод трудоемок, не учитывает возможности возникновения состязаний на наборах теста.
Поэтому для решения проблем тестирования в СБИС используют специальные методы проектирования самих микросхем, обеспечивающих их лучшую контролепригодность.
Это, во-первых, методы сканирования, преобразующие последовательностные схемы в комбинационные. Для этого в схему добавляются узлы, которые позволяют в режиме тестирования объединять имеющиеся в схеме триггеры в один или несколько сдвигающих регистров, управляющих состоянием схемы и управляемых через добавляемый последовательный вход. Примером методов сканирования может служить метод граничного сканирования (BS — boundary-scan), предназначенный преимущественно для проверки соединений на печатных платах и в многокристальных СБИС.
Во-вторых, это методы самотестирования (BIST).